UL 1557-2006 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств, четвертое издание; Перепечатка с изменениями до 26 июня 2006 г. включительно. - Стандарты и спецификации PDF

UL 1557-2006
Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств, четвертое издание; Перепечатка с изменениями до 26 июня 2006 г. включительно.

Стандартный №
UL 1557-2006
Дата публикации
2006
Разместил
Underwriters Laboratories (UL)
состояние
 2009-01
быть заменен
UL 1557 BULLETINS-2006
Последняя версия
UL 1557-2022
сфера применения
Эти требования распространяются на полупроводниковые устройства изолированного типа - тиристоры, транзисторы, диоды и т.п., а также гибридные модули, состоящие из комбинаций этих устройств, в которых напряжение постоянного или переменного тока не превышает 600 В. 1.2 Настоящие требования не распространяются на снабберные и коммутационные цепи, связанные с тиристорами, транзисторами или другими аналоговыми полупроводниковыми приборами. 1.3 Эти требования охватывают характеристики изоляции тиристоров, транзисторов, диодов и т.п., а также их комбинацию в модульных корпусах и конструктивные особенности, имеющие отношение к этим характеристикам. 1.4 Настоящие требования распространяются на изолированные полупроводники, используемые в качестве компонентов изделий. Соответствие изолированного полупроводника этим требованиям не означает, что полупроводник приемлем для использования в качестве компонента конечного продукта без дальнейшего исследования. Приемлемость полупроводника в любом конкретном изделии зависит от его пригодности для дальнейшего использования в условиях фактической эксплуатации.

UL 1557-2006 История

  • 2022 UL 1557-2022 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств
  • 2018 UL 1557 BULLETIN-2018 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 12 марта 2018 г.)
  • 2018 UL 1557-2018 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (шестое издание)
  • 2017 UL 1557 CRD-2017 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых приборов. Ссылка на раздел/абзац: 14. Тема: Испытание диэлектрического напряжения производственной линии – добавление испытания постоянным током (Редакция 5: 29 декабря 2011 г.)
  • 2014 UL 1557 BULLETIN-2014 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 13 ОКТЯБРЯ 2014 г.)
  • 2012 UL 1557 BULLETIN-2012 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 22 июля 2012 г.)
  • 2011 UL 1557 BULLETIN-2011 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОК СРОК: 19 ДЕКАБРЯ 2011 г.)
  • 2011 UL 1557-2011 Электрически изолированные полупроводниковые приборы
  • 2009 UL 1557 BULLETIN-2009 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (КОММЕНТАРИИ СРОЧНО: 13 июля 2009 г.)
  • 2006 UL 1557 BULLETINS-2006 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств (11.04.2006 (4p); 26.01.2006 (4p))
  • 2006 UL 1557-2006 Стандарт UL по безопасности электрически изолированных полупроводниковых устройств, четвертое издание; Перепечатка с изменениями до 26 июня 2006 г. включительно.
  • 1997 UL 1557-1997 Электрически изолированные полупроводниковые приборы
  • 1993 UL 1557-1993 Электрически изолированные полупроводниковые приборы



© 2023. Все права защищены.