Эта часть IEC 60793 устанавливает единые требования к механическим характеристикам: скручиванию или скрытой кривизне волокна в оптических волокнах без покрытия. Скручивание волокна было определено как важный параметр для минимизации потерь на сращивании оптических волокон при использовании сварочных аппаратов с пассивным выравниванием или сварочных аппаратов с массовым выравниванием с активным выравниванием. Признаны два метода измерения скручивания волокон в непокрытых оптических волокнах:
•метод А: микроскопия бокового вида;
•метод Б: рассеяние лазерного луча. Оба метода измеряют радиус кривизны волокна без покрытия, определяя величину отклонения, возникающего при вращении неподдерживаемого конца волокна вокруг оси волокна. Метод A использует методы визуального или цифрового видео для определения отклонения волокна, тогда как метод B использует линейный датчик для измерения максимального отклонения одного лазерного луча относительно эталонного лазерного луча. Измерив поведение волокна при вращении вокруг своей оси и поняв геометрию измерительного устройства, можно рассчитать радиус кривизны волокна на основе простых круговых моделей, выводы которых приведены в Приложении C. Оба метода применимо к оптическим волокнам типов A1, A2, A3 и B, как описано в серии стандартов IEC 60793. Метод А — это эталонный метод тестирования, используемый для разрешения споров.
IEC 60793-1-34:2006 История
0000 IEC 60793-1-34:2021 RLV
2006IEC 60793-1-34:2006 Оптические волокна. Часть 1-34. Методы измерения и процедуры испытаний. Скручивание волокна.
2001IEC 60793-1-34:2001 Волокна оптические. Часть 1-34. Методы измерений и процедуры испытаний; Скручивание волокон