IEC 60747-1:2006
Полупроводниковые приборы. Часть 1: Общие сведения

Стандартный №

IEC 60747-1:2006

Дата публикации

2006

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 60747-1:2006/COR1:2008

Последняя версия

IEC 60747-1:2006/AMD1:2010

заменять

IEC 47/1423/CDV:1998 IEC 47/1841/FDIS:2005 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-1 AMD 1:1991 IEC 60747-1 AMD 2:1993 IEC 60747-1 AMD 3:1996

сфера применения

В этой части МЭК 60747 приведены общие требования, применимые к дискретным полупроводниковым устройствам и интегральным схемам, на которые распространяются другие части МЭК 60747 и МЭК 60748 (см. Приложение А).

IEC 60747-1:2006 История

• 2010 IEC 60747-1:2006/AMD1:2010 Полупроводниковые приборы. Часть 1: Общие сведения
• 2010 IEC 60747-1:2010 Полупроводниковые приборы. Часть 1: Общие сведения (издание 2.1, сводное переиздание)
• 2008 IEC 60747-1:2006/COR1:2008 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Общие сведения; Исправление 1
• 2006 IEC 60747-1:2006 Полупроводниковые приборы. Часть 1: Общие сведения
• 1996 IEC 60747-1/AMD3:1996 Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 1. Общие сведения; Поправка 3
• 1991 IEC 60747-1/AMD1:1991 Полупроводниковые приборы; дискретные устройства и интегральные схемы; часть 1: общая; поправка 1
• 1983 IEC 60747-1:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 1: Общие сведения