IEC PAS 62276:2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройства на поверхностных акустических волнах. Технические характеристики и метод измерения
IEC 60410:1973 Планы и процедуры отбора проб для проверки по признакам
IEC 60758:1993 Синтетический кристалл кварца; характеристики и руководство по использованию
IEC 60862-1:1989 фильтры поверхностных акустических волн (ПАВ); часть 1: общая информация, стандартные значения и условия испытаний; глава I: общая информация и стандартные значения; глава II: условия испытаний
IEC 60862-2:1991 фильтры поверхностных акустических волн (ПАВ); часть 2: руководство по использованию фильтров поверхностных акустических волн (глава III)
IEC 61019-1-1:1990 резонаторы поверхностных акустических волн (ПАВ); часть 1: общая информация, стандартные значения и условия испытаний; раздел I: общая информация и стандартные значения
IEC 61019-1-2:1993 резонаторы поверхностных акустических волн (ПАВ); часть 1: общая информация, стандартные значения и условия испытаний; раздел 2: условия испытаний
IEC 61019-2:1995 Резонаторы поверхностных акустических волн (ПАВ). Часть 2. Руководство по использованию.
IEC 61019-3:1991 резонаторы поверхностных акустических волн (ПАВ); часть 3: стандартные контуры и соединения выводов
IEC PAS 62276:2001 История
2001IEC PAS 62276:2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройства на поверхностных акустических волнах. Технические характеристики и метод измерения
IEC PAS 62276:2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройства на поверхностных акустических волнах. Технические характеристики и метод измерения было изменено на IEC 62276:2005 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения..