ANSI/IEEE 475:2000
Стандартная процедура измерения для датчиков возмущений поля от 300 МГц до 40 ГГц

Стандартный №

ANSI/IEEE 475:2000

Дата публикации

2000

Разместил

American National Standards Institute （ANSI)

Последняя версия

ANSI/IEEE 475:2000

сфера применения

Определены процедуры испытаний датчиков возмущений микроволнового поля для измерения напряженности радиочастотного (РЧ) поля основной частоты, гармонических частот, плотности потока мощности ближнего поля и негармонических побочных излучений датчиков, работающих в диапазоне частот от 300 МГц до 40 ГГц. .

ANSI/IEEE 475:2000 История

• 2000 ANSI/IEEE 475:2000 Стандартная процедура измерения для датчиков возмущений поля от 300 МГц до 40 ГГц