JIS C 5021:1978
Процедуры холодных испытаний электронных компонентов

Стандартный №

JIS C 5021:1978

Дата публикации

1978

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

состояние

снять со счета

Последняя версия

JIS C 5021:1978

JIS C 5021:1978 История

• 1978 JIS C 5021:1978 Процедуры холодных испытаний электронных компонентов