В документе рассматриваются оптоэлектронные методы линейных измерений. Он охватывает концепции и принципы измерений, определяет требования и проверку характеристик величин.#,,#
DIN 32877:2000 История
2000DIN 32877:2000-08 Оптоэлектронное измерение расстояния, профиля и формы / Примечание: Заменить на DIN 32877-1 (2018-12, t), DIN 32877-2 (2019-12, t).
2000DIN 32877:2000 Оптоэлектронное измерение расстояния, профиля и формы