Применяется для практических измерений потерь в оптическом волокне, точечных дефектов, изменения оптической проводимости/потерь, потерь в микрополосах и потерь на изгибах.
JIS C 6823:1999 История
2010JIS C 6823:2010 Методы измерения затухания оптических волокон
1999JIS C 6823:1999 Методы измерения затухания оптических волокон
1989JIS C 6823:1989 Методы испытаний на затухание многомодовых оптических волокон