DIN 50456-3:1999 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей.
Документ определяет метод определения Na, K и CA в формовочных массах для электронных компонентов путем анализа водного экстракта формовочной массы эпоксидной смолы посредством испытания в скороварке в соответствии с DIN 50456-2.#,,#
DIN 50456-3:1999 История
1999DIN 50456-3:1999 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей.