DIN 50456-3:1999 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей. - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50456-3:1999
Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей.

Стандартный №
DIN 50456-3:1999
Дата публикации
1999
Разместил
German Institute for Standardization
Последняя версия
DIN 50456-3:1999
сфера применения
Документ определяет метод определения Na, K и CA в формовочных массах для электронных компонентов путем анализа водного экстракта формовочной массы эпоксидной смолы посредством испытания в скороварке в соответствии с DIN 50456-2.#,,#

DIN 50456-3:1999 История

  • 1999 DIN 50456-3:1999 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных примесей.



© 2023. Все права защищены.