IEC 61280-1-3:1998 Основные процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Процедуры испытаний для подсистем связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
Целью этой процедуры испытаний является измерение нескольких свойств длины волны и ширины спектра оптического спектра, связанного с подсистемой оптоволоконной связи. Измерение проводится с целью построения и/или обслуживания системы. Оптический передатчик обычно находится в режиме модуляции. ПРИМЕЧАНИЕ. – Разным спектральным типам могут соответствовать разные свойства, такие как непрерывные спектры, характерные для светоизлучающих диодов (СИД), спектры многопродольной моды (MLM) и спектры одной продольной моды (SLM), оба из которых характерны для лазерных диодов (LD). ). ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ. Соблюдайте осторожность, чтобы избежать возможного повреждения глаз при взгляде на конец волокна под напряжением от любого источника света. Самое главное, персоналу следует избегать заглядывания в любое волокно, находящееся под напряжением, с использованием любого типа увеличительного устройства. Необходимо соблюдать требования МЭК 60825-1.
IEC 61280-1-3:1998 История
0000 IEC 61280-1-3:2021 RLV
2010IEC 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
1998IEC 61280-1-3:1998 Основные процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Процедуры испытаний для подсистем связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра