JIS H 8680-1:1998
Методы определения толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах. Часть 1. Микроскопический метод.

Стандартный №

JIS H 8680-1:1998

Дата публикации

1998

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS H 8680-1:1998

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод испытания толщины анодно-оксидных покрытий (далее именуемых «покрытия»), нанесенных на изделия из алюминия и алюминиевых сплавов (далее именуемые «продукцией») путем микроскопического измерения поперечного сечения.

JIS H 8680-1:1998 История

• 1998 JIS H 8680-1:1998 Методы определения толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах. Часть 1. Микроскопический метод.
• 1993 JIS H 8680:1993 Методы испытаний толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах