IEC 60747-11:1985
Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 11. Раздельная спецификация для дискретных устройств.
- Стандартный №
- IEC 60747-11:1985
- Дата публикации
- 1985
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60747-11:1985/AMD1:1991
- Последняя версия
- IEC 60747-11:1985/AMD2:1996
- сфера применения
- Применимо для оценки качества дискретных полупроводниковых приборов. Приводит конкретные требования к проверке соответствия качества (включено в QC 750000 системы IECQ) и идентификации клемм; представляет собой спецификацию сечения. Контай
IEC 60747-11:1985 История
- 1996 IEC 60747-11:1985/AMD2:1996 Поправка 2 – Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 11: Секционная спецификация для дискретных устройств
- 1991 IEC 60747-11:1985/AMD1:1991 Полупроводниковые приборы; часть 11: секционная спецификация для дискретных устройств; поправка 1
- 1985 IEC 60747-11:1985 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 11. Раздельная спецификация для дискретных устройств.
