DIN 50441-3:1985 Испытание материалов для полупроводниковой техники; измерение геометрических размеров полупроводниковых пластинок; определение отклонения от плоскостности полированных срезов методом многолучевой интерференции - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50441-3:1985
Испытание материалов для полупроводниковой техники; измерение геометрических размеров полупроводниковых пластинок; определение отклонения от плоскостности полированных срезов методом многолучевой интерференции

Стандартный №
DIN 50441-3:1985
Дата публикации
1985
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
Последняя версия
DIN 50441-3:1985

DIN 50441-3:1985 История

  • 1985 DIN 50441-3:1985 Испытание материалов для полупроводниковой техники; измерение геометрических размеров полупроводниковых пластинок; определение отклонения от плоскостности полированных срезов методом многолучевой интерференции



© 2023. Все права защищены.