IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
Последняя версия
IEEE 1581-2011
сфера применения
Этот стандарт определяет недорогой метод тестирования соединения дискретных интегральных схем сложной памяти (ИС), где дополнительные контакты для тестирования недоступны и реализация граничного сканирования (IEEE Std 1149.1?)1 невозможна. Этот стандарт описывает правила реализации тестовой логики и методов доступа/выхода из тестового режима в совместимых микросхемах. Стандарт ограничен описанием поведения реализации и не будет включать в себя технический проект тестовой логики или схемы управления тестовым режимом. Цель В настоящее время не существует определенного независимого стандарта для технологии тестирования устройств памяти. Каждый поставщик свободен в реализации функций тестового оборудования в своих микросхемах для поддержки тестов подключения. Без независимого стандарта@ тестируемость снижается@ и покрытие тестированием может быть неполным ?? делая технологию тестирования менее полезной для других. Этот стандарт улучшит тестирование межсоединений для устройств с дискретной памятью, определяя правила реализации тестовой логики и методы входа/выхода из режима тестирования, включенные в микросхемы памяти, в качестве руководства как для поставщиков микросхем, реализующих стандарт, так и для производителей испытательного оборудования, поддерживающего этот стандарт. Стандарт предназначен для микросхем, которые по какой-либо причине не имеют возможности тестирования (DFT)@, ориентированы в первую очередь на устройства памяти, но также допускают реализацию в других устройствах@, поддерживая при этом самый высокий охват неисправностей и диагностику на уровне контактов на уровне платы. сбои подключения на таких устройствах. 1 Информацию о нормативных ссылках можно найти в разделе 2.
IEEE 1581-2011 История
2011IEEE 1581-2011 Протокол и архитектура тестирования взаимодействия статических компонентов (Компьютерное общество IEEE)