IEC 60444-2:1980
Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.

Стандартный №

IEC 60444-2:1980

Дата публикации

1980

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60444-2:1980

сфера применения

Описан метод, пригодный для измерений в диапазоне частот от 1 МГц до 125 МГц с общей погрешностью измерения порядка 5 %. Этот метод основан на измерении фазы на резонансной частоте и в ее окрестности. Значение движения

IEC 60444-2:1980 История

• 1980 IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.