IEC 60444-1:1986
Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
- Стандартный №
- IEC 60444-1:1986
- Дата публикации
- 1986
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- 2008-01
- быть заменен
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Последняя версия
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- сфера применения
- Определяет простой метод измерения и описывает подходящую измерительную сеть. Метод измерения и сеть подходят для использования в диапазоне частот от 1 до 200 МГц. Измерительная схема состоит в основном из -сети, соединенной с
IEC 60444-1:1986 История
- 1999 IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети - Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети; Поправка
- 1986 IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
