Материал, представленный в этом стандарте, предназначен для предоставления общей терминологии и методов тестирования для тестирования и оценки аналого-цифровых преобразователей (АЦП). Этот стандарт рассматривает только те АЦП, выходные значения которых имеют дискретные значения в дискретные моменты времени, т. е. они квантуются и дискретизируются. В общем @ это квантование предполагается номинально равномерным (кривая передачи вход-выход представляет собой приблизительно прямую линию), как обсуждается далее в разделе 1.3 @, и предполагается, что дискретизация происходит с номинально равномерной скоростью. Некоторые, но не все, методы тестирования, описанные в настоящем стандарте, могут использоваться для АЦП, предназначенных для неравномерного квантования. Этот стандарт определяет источники ошибок АЦП и предоставляет методы тестирования, с помощью которых можно выполнить необходимые измерения ошибок. Информация в этом стандарте полезна как производителям, так и пользователям АЦП, поскольку она обеспечивает основу для оценки и сравнения существующих устройств, а также предоставляет шаблон для написания спецификаций для закупки новых. В некоторых приложениях информация, предоставляемая тестами, описанными в этом стандарте, может использоваться для исправления ошибок АЦП, например, коррекции ошибок усиления и смещения. Читатель должен отметить, что этот стандарт во многом похож на IEEE Std 1057-1994. Многие тесты и термины практически одинаковы, поскольку АЦП являются необходимой частью оцифрованных регистраторов сигналов.
IEEE 1241-2000 История
2023IEEE 1241-2023 Стандарт IEEE по терминологии и методам испытаний аналого-цифровых преобразователей
2010IEEE 1241-2010 Терминология и методы испытаний аналого-цифровых преобразователей
2001IEEE 1241-2001 Терминология и методы испытаний аналого-цифровых преобразователей
2000IEEE 1241-2000 Стандарт на терминологию и методы испытаний аналого-цифровых преобразователей