В этом стандарте подробно описан метод измерения числовой апертуры объективов микроскопа на основе изображения. Он применим к объективам микроскопа, скорректированным на бесконечность, с номинальной числовой апертурой более 1,00. Высокоточные измерения достигаются благодаря инновационной технологии визуализации в сочетании с принципом полного внутреннего отражения.
Основываясь на принципе полного внутреннего отражения, параллельный свет, излучаемый измерительным устройством, проходит через тестируемую линзу объектива, образуя на нижней поверхности покровного стекла два круговых рисунка: круг числовой апертуры и круг полного внутреннего отражения. Эти рисунки регистрируются датчиком изображения, и специализированное программное обеспечение используется для расчета отношения диаметров, в конечном итоге определяя числовую апертуру объектива микроскопа.
| Название модуля | Описание функции |
|---|---|
| Модуль подсветки изображения | Обеспечивает источник проходящего света для наблюдения за рисунком покровного стекла. |
| Модуль фокусировки | Точно регулирует расстояние между объективом и покровным стеклом для обеспечения четкости изображения. |
| Модуль подсветки измерения | Выводит высокоточный параллельный луч для удовлетворения требований измерения. |
| Модуль обнаружения | Состоит из трубчатой линзы и матричного датчика изображения и используется для захвата измерительных изображений. |
Температура: 23°C ±5°C
Относительная влажность: 20% ~70%
Давление воздуха: 86 кПа ~106 кПа
В соответствии с В соответствии со стандартом JJF1059.1-2012 неопределенность измерений подразделяется на тип А (повторяемость) и тип В (точность аппроксимации окружности). Формула расчета комбинированной неопределенности выглядит следующим образом:
$$ U_{\mathrm{NA}} = \overline{{\mathbf{NA}}} \sqrt{\left({\frac{U_{D_{\boldsymbol{\psi}}|}}{D_{\boldsymbol{\psi}}|}}\right)^2 + \left({\frac{U_{D_{\boldsymbol{\psi}}|}}{D_{\boldsymbol{\psi}}|}}\right)^2} $$Где $$ U_{\mathrm{A}} = t_p u_A $$ и $$ U_{\mathrm{B}} = g \frac{a}{k} $$ обозначают расширенные неопределенности типа A и типа B соответственно.

© 2025. Все права защищены.