KS C 6049-2020 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем - Стандарты и спецификации PDF

KS C 6049-2020
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем

Стандартный №
KS C 6049-2020
Дата публикации
2020
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Последняя версия
KS C 6049-2020

KS C 6049-2020 История

  • 2020 KS C 6049-2020 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем
  • 1980 KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем



© 2024. Все права защищены.