GB/T 38138-2019 (Англоязычная версия) Методы испытаний чипов из поликапролактама (ПА6) волокнистого качества - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 38138-2019
Методы испытаний чипов из поликапролактама (ПА6) волокнистого качества (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 38138-2019
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2019
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 38138-2019
 

сфера применения
В настоящем стандарте определены методы испытаний крошки поликапролактама (ПА6) волокнистого качества. Этот стандарт применим к чипсам поликапролактама (PA6) волокнистого качества, произведенным с использованием капролактама в качестве сырья. Другие дифференцированные и функциональные чипсы поликапролактама (PA6) волокнистого качества могут быть выбраны для справки.

GB/T 38138-2019 Ссылочный документ

  • GB/T 28212 Лабораторная посуда. Конденсаторы
  • GB/T 4146 Текстильные термины и терминология (части химических волокон)
  • GB/T 601 Химический реактив.Приготовление эталонных растворов для титрования.
  • GB/T 603 Получение препаратов и продуктов, используемых в химических реагентных методах испытаний.*2023-08-06 Обновление
  • GB/T 625 Химический реагент серная кислота*2024-09-29 Обновление
  • GB/T 6678 Общие принципы отбора проб химической продукции
  • GB/T 6682  Вода для аналитических лабораторий. Спецификация и методы испытаний.
  • GB/T 8170  Правила округления числовых значений и выражения и определения предельных значений
  • ISO 3105 Стеклянные капиллярные кинематические вискозиметры. Технические характеристики и инструкции по эксплуатации [Стандарт на французском языке]

GB/T 38138-2019 История

  • 2019 GB/T 38138-2019 Методы испытаний чипов из поликапролактама (ПА6) волокнистого качества
Методы испытаний чипов из поликапролактама (ПА6) волокнистого качества

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

CNS 13198-1993 Фиксированные многослойные керамические конденсаторы для использования в электронном оборудовании JEDEC JESD22-B118A-2021 Внешний визуальный осмотр задней стороны полупроводниковой пластины и кристалла DIN EN 492 A1 E:2015-08 Фиброцементные плиты и арматура — Технические характеристики продукции и методы испытаний DS/IEC 748-20:1990 Полупроводниковые приборы. Интегрированные схемы. Часть 20: Общая спецификация пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем NC 43-08-1987 Промышленность искусственной и натуральной древесины. Партиоловые и древесноволокнистые плиты. Методы тестирования JEDEC JESD22-B116B-2017 Метод испытания на сдвиг проволочного соединения CNS 13593-1995 Методы испытаний конструкции текстильных напольных покрытий DANSK DS/IEC 748-20:1989 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20. Общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем ISO/IEC 7816-11:2022 Карты удостоверения личности. Карты на интегральных схемах. Часть 11. Проверка личности биометрическими методами GA 1091-2013 Условия оценки экологической адаптивности интегральных микросхем на частоте 13,56 МГц в электронных сертификатах



© 2025. Все права защищены.