T/CRRA 1314-2023 (Англоязычная версия) Технические рекомендации по восстановлению запоминающего устройства - Стандарты и спецификации PDF

T/CRRA 1314-2023
Технические рекомендации по восстановлению запоминающего устройства (Англоязычная версия)

Стандартный №
T/CRRA 1314-2023
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2023
Разместил
Group Standards of the People's Republic of China
Последняя версия
T/CRRA 1314-2023
 

сфера применения
Стандарт включает следующие пять глав технического содержания: Глава 4. Переработка и хранение. Эта часть определяет соответствующие требования, которым складское оборудование должно соответствовать в процессе переработки и хранения. Глава 5 Безопасность данных: эта часть состоит из трех частей: общие требования, удаление данных и уничтожение данных. В ней приводятся соответствующие требования, которые предприятия должны соблюдать при обработке данных устройств хранения для обеспечения безопасности данных. Глава 6 Повторное использование: содержит требования, которым должны соответствовать устройства хранения данных при их повторном использовании, включая необходимость очистки данных перед повторным использованием и соответствие соответствующим национальным, отраслевым или корпоративным стандартам при выходе на рынок. Глава 7. Идентификация и отслеживание. Складское оборудование, продаваемое на стороне, должно иметь маркировку повторного использования, а соответствующие деловые документы должны быть сохранены. Глава 8. Контроль загрязнения: Содержит соответствующие требования, которые должны соблюдаться при очистке отходящих газов, сточных вод, шума и опасных отходов, образующихся в процессе переработки складского оборудования.

T/CRRA 1314-2023 История

  • 2023 T/CRRA 1314-2023 Технические рекомендации по восстановлению запоминающего устройства

стандарты и спецификации

GOST R 71058-2023 Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства. Система параметров IEEE Std 662-1992 Стандартная терминология IEEE для полупроводниковой памяти DIN EN 60749-41 E:2017-04 Методы механических и климатических испытаний полупроводниковых приборов. Часть 41: Методы испытаний надежности энергонезависимых компонентов памяти IEEE Std 1285-2005 Стандарт IEEE для масштабируемого интерфейса хранения данных GOST 2.765-1987 Единая система конструкторской документации. Графическая идентификация на электрических схемах. Хранилища IEEE 1619-2007 Криптографическая защита данных на блочно-ориентированных запоминающих устройствах IS 11018 Pt.2-1984 Характеристика электронно-лучевых осциллографов. Часть 2. Запоминающие осциллографы SAE ARINC763-3-2005 СЕТЕВАЯ СЕРВЕРНАЯ СИСТЕМА (NSS ANSI/IEEE Std 662-1980 Стандартная терминология IEEE для полупроводниковой памяти ASTM F1191-88 Руководство по радиационным испытаниям полупроводниковой памяти



© 2025. Все права защищены.