UNE-EN 62374-1:2010
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (одобрено AENOR в марте 2011 г.)
- Стандартный №
- UNE-EN 62374-1:2010
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- ES-UNE
- Последняя версия
- UNE-EN 62374-1:2010
UNE-EN 62374-1:2010 История
- 2011 UNE-EN 62374-1:2010 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (одобрено AENOR в марте 2011 г.)
