EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN IEC 63287-1:2021
сфера применения
В стандарте IEC 63287-1:2021 приведены рекомендации по планам аттестации надежности полупроводниковых интегральных схем. Этот документ не предназначен для применения в военной и космической сфере. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Производитель может использовать гибкие размеры выборки для снижения затрат и поддержания разумной надежности с помощью адаптации данного руководства на основе EDR-4708, AEC Q100, JESD47 или другого соответствующего документа, если это указано. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Метод распределения Вейбулла, используемый в этом документе, является одним из нескольких методов расчета соответствующего размера выборки и условий испытаний для данного проекта надежности. Настоящее первое издание МЭК 63287-1 отменяет и заменяет первое издание МЭК 60749-43, опубликованное в 2017 году. Данное издание представляет собой техническую пересмотренную версию. Это издание включает следующие существенные технические изменения по сравнению с предыдущим изданием: документ был переименован и перенумерован, чтобы отличить его от IEC 60749 (все части); добавлен новый раздел, посвященный понятию «семья», с соответствующим изменением нумерации существующего текста.
EN IEC 63287-1:2021 История
2021EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.