ASTM F769-00
Стандартный метод испытаний для измерения токов утечки транзисторов и диодов (отозван в 2006 г.)

Стандартный №

ASTM F769-00

Дата публикации

2017

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM F769-00

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение токов утечки транзисторов и диодов. В электронных устройствах, подвергшихся воздействию ионизирующего излучения, ток утечки может увеличиваться по мере увеличения накопленной общей дозы. 1.2 Эти процедуры предназначены для измерения токов в диапазоне от 10-11 до 10-3 А.1.3 Этот метод испытаний может использоваться либо с измерителем тока виртуальной земли, либо с шунтирующим измерителем тока сопротивления.1.4 Указанные значения в Международной системе единиц (СИ) считаются стандартными. Никакие другие единицы измерения не включены в этот метод испытаний. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F769-00 История

• 2017 ASTM F769-00 Стандартный метод испытаний для измерения токов утечки транзисторов и диодов (отозван в 2006 г.)