LST CEN/TS 18094:2025 Близкие испытания. Метод испытаний для определения остаточных напряжений с использованием дифракции синхротронного рентгеновского излучения
В настоящем документе описан метод определения остаточных напряжений в поликристаллических материалах с помощью синхротронной рентгеновской дифракции. Метод применим как к гомогенным, так и к гетерогенным материалам, включая материалы с различимыми фазами. Приведены сведения о порядке проведения измерений остаточных напряжений синхротронной рентгеновской дифракцией: - выборе подходящих дифрагирующих кристаллографических плоскостей для проведения измерений в различных категориях материалов; - направлениях образца, в которых следует выполнять измерения; - объёме исследуемого материала в зависимости от размера зёрен и предполагаемого состояния напряжений; - выборе эталонного образца без остаточных деформаций для расчёта остаточных деформаций; - методах, доступных для определения остаточных напряжений по измеренным данным о деформациях. Изложены процедуры калибровки установок синхротронной рентгеновской дифракции, обеспечивающие: - точное позиционирование и юстировку испытываемых образцов; - точное определение объёма материала, отбираемого для отдельных измерений; а также: - проведение измерений; - выполнение процедур анализа результатов; - оценку их неопределённостей. Описаны принципы метода синхротронной рентгеновской дифракции и дан их сопоставительный анализ с требованиями стандартов EN 15305:2008 и EN ISO 21432:2020, применяемых для измерения напряжений в объёме образца.
LST CEN/TS 18094:2025 История
2025LST CEN/TS 18094:2025 Близкие испытания. Метод испытаний для определения остаточных напряжений с использованием дифракции синхротронного рентгеновского излучения