BS IEC 63068-4:2022
Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых устройств - Порядок выявления и оценки дефектов комбинированным методом оптического контроля и…

Стандартный №

BS IEC 63068-4:2022

Дата публикации

2022

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS IEC 63068-4:2022

BS IEC 63068-4:2022 История

• 2022 BS IEC 63068-4:2022 Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых устройств - Порядок выявления и оценки дефектов комбинированным методом оптического контроля и…