Анализ основного содержания стандарта
ISO 19962:2019 определяет стандартизированный метод измерения рассеивающих свойств планарных оптических компонентов с использованием двухлучевого спектрофотометра. Основные технические характеристики включают:
| Технические параметры | Требования | Основа испытаний |
| Двухлучевой спектрофотометр | Диапазон длин волн 350-850 нм, разрешение ≤5 нм | Приложение B Сертификация производительности |
| Интегрирующая сфера | Площадь выходного отверстия/площадь внутренней поверхности ≤0,03, минимальный угол сбора 2,7°-8,6° | Статья 5.2.4 |
| Остаточное рассеяние | Рекомендуется: <0,02%, фактическое измеренное значение должно быть записано | Статья 5.1 |
Ключевые технические требования
1. Состав измерительной системы
Измерительная система, требуемая стандартом, включает четыре основных модуля:
- Источник излучения: Вольфрамовая галогенная лампа (350-850 нм)
- Оптическая система: Конструкция с двойным оптическим путем, монохроматор с дифракционной решеткой
- Интегрирующая сфера: Внутренний диаметр ≥60 мм, покрытие BaSO4 или PTFE
- Система детектирования: Фотоэлектронный умножитель, динамический диапазон OD5
2. Минимальное влияние рассеяния и угла сбора: Сравнительные эксперименты показали, что при увеличении угла сбора от 2,7° до 8,6° измеренные значения рассеяния могут изменяться на 30-50% (подробности см. в Приложении C). Рекомендуется сохранять одну и ту же конфигурацию угла сбора для всех экспериментов в пределах одной партии.
Точки реализации и примеры использования
Типичный процесс измерения
- Базовое измерение (без образца, стандарт диффузного отражения установлен на выходе)
- Измерение пропускания образца τst(λ)
- Измерение остаточного рассеяния τrs(λ)
- Рассеяние с помощью измерения τss(λ) образца
- Значение прямого рассеяния рассчитывается по формуле:
Sf = [τss(λ) - τst(λ)·τrs(λ)] / [1 - τrs(λ)]
Источники неопределенности
| Факторы | Типичные значения |
| Точность длины волны | ±0,2 нм |
| Погрешность нелинейности | 0,6% |
| Рассеянный свет | ≤0,0001% |
Развитие стандарта и применение в промышленности
Настоящий стандарт дополняет ISO 13696:2002. Основные улучшения включают в себя:
- Расширенные возможности спектральных измерений (исходный стандарт был ограничен измерениями с одной длиной волны лазера)
- Оптимизированная адаптивность коммерческих спектрофотометров
- Добавлен метод оценки влияния минимального угла сбора
Он имеет важное прикладное значение в оптических тонких пленках, просветляющих покрытиях, прецизионных оптических компонентах и других областях и особенно подходит для:
- Оценки потерь на рассеяние в мощных лазерных системах
- Анализа рассеянного света в системах визуализации
- Проверки качества обработки оптических поверхностей