BS ISO 24173:2024
Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

Стандартный №: BS ISO 24173:2024
Дата публикации: 2024
Разместил: British Standards Institution (BSI)
Последняя версия: BS ISO 24173:2024

сфера применения: В настоящем документе содержатся рекомендации по проведению надежных и воспроизводимых измерений кристаллографической ориентации с использованием дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD). В нем рассматриваются требования к подготовке образцов, настройке приборов, калибровке приборов и сбору данных.

BS ISO 24173:2024 Ссылочный документ

ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий [Стандарт на французском языке]
ISO/IEC GUIDE 98-3 Неопределенность измерения - Руководство по выражению неопределенности измерения (ГУМ:1995). Расширение на любое количество выходных величин

BS ISO 24173:2024 История

2024 BS ISO 24173:2024 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
2009 BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов

Специальные темы по стандартам и нормам

обратно рассеянные электроны Дифракция обратного рассеяния Что измеряет обратное рассеяние Как выполнить дифракционный анализ дифракция обратного рассеяния электронов

стандарты и спецификации

NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов BS ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов ISO/DIS 24173:2023 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов. GSO ISO 24173:2015 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов 08/30133935 DC . Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов 23/30435799 DC BS ISO 24173. Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов DIN ISO 24173:2013 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009) DIN ISO 24173:2013-04 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (ISO 24713:2009)

© 2025. Все права защищены.