1.1 Данная методика охватывает расчет индекса солнечного отражения (SRI) горизонтальных и малонаклонных непрозрачных поверхностей при стандартных условиях. Метод предназначен для расчета SRI для поверхностей с коэффициентом излучения более 0,1. 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.4 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).
ASTM E1980-11(2019) Ссылочный документ
ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*, 2023-03-01 Обновление
ASTM E1980-11(2019) История
2019ASTM E1980-11(2019) Стандартная практика расчета коэффициента солнечного отражения горизонтальных и малонаклонных непрозрачных поверхностей
2011ASTM E1980-11 Стандартная практика расчета коэффициента солнечного отражения горизонтальных и малонаклонных непрозрачных поверхностей
2001ASTM E1980-01 Стандартная практика расчета коэффициента солнечного отражения горизонтальных и малонаклонных непрозрачных поверхностей
1998ASTM E1980-98e1 Стандартная практика расчета коэффициента солнечного отражения горизонтальных и малонаклонных непрозрачных поверхностей