ASTM F1048-87(1999)

Стандартный №

ASTM F1048-87(1999)

Дата публикации

1970

Разместил

/

Последняя версия

ASTM F1048-87(1999)

сфера применения

1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение эффективной шероховатости непрозрачной отражающей поверхности, определяемой по полному интегральному светорассеянию (TIS). 1.2 Применение: 1.2.1 Этот метод испытаний особенно применим к металлическим зеркалам или гладким диэлектрикам, покрытым непрозрачной отражающей поверхностью. 1.2.2 Настоящий метод испытаний применим к образцам диаметром от 5 мм до размеров, допускаемых опорными компонентами. Площадь отбора проб составляет около 1 мм в диаметре. 1.3 Ограничения. Этот метод испытаний ограничен образцами с плоскими или сферическими оптическими поверхностями с радиусом кривизны более 10 м. 1.4 Этот метод испытаний определяет интегральное рассеяние от угла примерно 2,5° от нормали к поверхности до угла примерно 70° от нормали к поверхности. 1.5 Метод испытаний проводят с использованием гелий-неонового лазера, работающего на длине волны 632,8 нм. 1.6 Повторное использование этого метода испытаний на различных участках образца позволяет составить карту TIS поверхности. 1.7 Данный метод испытаний является неразрушающим. 1.8 Ведение контрольной карты для контроля стабильности процесса измерений описано в приложении А1. 1.9 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Конкретные указания на опасность см. в разделе 8.

ASTM F1048-87(1999) Ссылочный документ

• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний*， 1999-10-26 Обновление

ASTM F1048-87(1999) История

• 1970 ASTM F1048-87(1999)