| Размеры стандартной рамки | Область применения | Аналитические методы | Предел обнаружения |
|---|---|---|---|
| Применимые материалы | Поликристаллический кремний, монокристаллический кремний | Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-MS) | Предел обнаружения определяется прибором и условиями |
| Измеряемые элементы | Примесные элементы, кроме водорода и инертных газов | Измерение интенсивности ионного тока и анализ данных | Массовая доля: от 0,1% и выше (через калибровочные образцы) |
| Технические требования | Подготовка образцов высокой чистоты | Стандартизация и калибровка интенсивности ионов | Чувствительность прибора: контроль помех на фоне аргона |
Интенсивность ионов: относится к полному потоку ионов определенного элемента, регистрируемому прибором, и является ключевым параметром в масс-спектрометрическом анализе.
Образец-игла: Образец с круглым или квадратным поперечным сечением, обычно используемый для высокочувствительный анализ. Например, использование игольчатого образца в образцах поликремния может повысить эффективность и точность обнаружения.
С развитием полупроводниковой промышленности требования к чистоте поликремния становятся все выше. Традиционные методы химического анализа с трудом удовлетворяют требованиям обнаружения следовых количеств элементов, что делает использование высокочувствительной масс-спектрометрии тлеющего разряда неизбежным выбором. Этот стандарт заполняет пробел в этой области внутри страны и обеспечивает научную основу для контроля качества поликремния.

© 2025. Все права защищены.