GB/T 33236-2016 (Англоязычная версия) Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 33236-2016
Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 33236-2016
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2016
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 33236-2016
 

сфера применения

Обзор стандарта GB/T 33236-2016

Размеры стандартной рамки Область применения Аналитические методы Предел обнаружения
Применимые материалы Поликристаллический кремний, монокристаллический кремний Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-MS) Предел обнаружения определяется прибором и условиями
Измеряемые элементы Примесные элементы, кроме водорода и инертных газов Измерение интенсивности ионного тока и анализ данных Массовая доля: от 0,1% и выше (через калибровочные образцы)
Технические требования Подготовка образцов высокой чистоты Стандартизация и калибровка интенсивности ионов Чувствительность прибора: контроль помех на фоне аргона

Объяснение профессиональной терминологии и примеры применения

Интенсивность ионов: относится к полному потоку ионов определенного элемента, регистрируемому прибором, и является ключевым параметром в масс-спектрометрическом анализе.

Образец-игла: Образец с круглым или квадратным поперечным сечением, обычно используемый для высокочувствительный анализ. Например, использование игольчатого образца в образцах поликремния может повысить эффективность и точность обнаружения.

Предпосылки разработки стандартов и технологическая эволюция

С развитием полупроводниковой промышленности требования к чистоте поликремния становятся все выше. Традиционные методы химического анализа с трудом удовлетворяют требованиям обнаружения следовых количеств элементов, что делает использование высокочувствительной масс-спектрометрии тлеющего разряда неизбежным выбором. Этот стандарт заполняет пробел в этой области внутри страны и обеспечивает научную основу для контроля качества поликремния.

Рекомендации по внедрению

  • Подготавливайте образцы строго в соответствии с требованиями стандарта, обеспечивая правильность этапов очистки для предотвращения загрязнения.
  • Калибровку прибора следует проводить не реже одного раза в 8 часов, чтобы форма пика и разрешение масс-спектрометрии соответствовали требованиям (≥3500).
  • При проведении углубленного анализа рекомендуется отключить функцию предварительного распыления, чтобы снизить влияние загрязнения поверхности образца.
  • Для образцов высокой чистоты предпочтительны методы физической резки (такие как а) и б), чтобы избежать введения металлических примесей.

GB/T 33236-2016 Ссылочный документ

  • GB/T 6682  Вода для аналитических лабораторий. Спецификация и методы испытаний.
  • ISO/TS 15338:2009  Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда (GD-MS). Введение в использование.

GB/T 33236-2016 История

  • 2016 GB/T 33236-2016 Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда.
Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

PD ISO/TS 15338:2025 Поверхностный химический анализ — Масс-спектрометрия тлеющего разряда — Рабочие процедуры GSO ISO 19272:2017 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод BS ISO 19272:2015 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (рутинный метод BS ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда AS 3685:1998 Рекомендуемые процедуры и принципы масс-спектрометрии тлеющего разряда (GD-MS ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии ISO/TS 25138:2019 Химический анализ поверхности. Анализ пленок оксидов металлов методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда GSO ISO/TS 15338:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда (GD-MS). Введение в использование ISO/TS 15338:2009 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда (GD-MS). Введение в использование BS ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии



© 2025. Все права защищены.