IEC 62047-17:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 17. Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок.
Эта часть IEC 62047 определяет метод проведения испытаний на выпучивание отдельно стоящей пленки, которая выпучена внутри окна. Образец изготавливается из микроаноструктурных пленочных материалов@, включая металлокерамические и полимерные пленки@ для микромашин МЭМС@ и других. Толщина пленки находится в пределах 0@1 ?? до 10 мм, а ширина прямоугольного и квадратного мембранного окна и диаметр круглого мембранного окна составляют от 0@5 мм до 4 мм. Испытания проводятся при температуре окружающей среды путем приложения равномерно распределенного давления к образцу испытательной пленки с выпуклым окном. С помощью этого метода можно определить модуль упругости и остаточное напряжение пленочных материалов.
IEC 62047-17:2015 Ссылочный документ
IEC 62047-2:2006 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 2. Метод испытания тонкопленочных материалов на растяжение.
IEC 62047-17:2015 История
2015IEC 62047-17:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 17. Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок.