IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986 Поправка 1. Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды. Часть 2. Испытания. Испытание Т: Пайка. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986
Поправка 1. Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды. Часть 2. Испытания. Испытание Т: Пайка.

Стандартный №
IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986
Дата публикации
1986
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
IEC 60068-2-20:1979/AMD2:1987
Последняя версия
IEC 60068-2-20:2021 RLV
заменять
1986-07-01
 

Введение
Данный документ представляет собой первый поправочный лист к фундаментальному стандарту в области испытаний на воздействие внешней среды. Он вводит дополнительные процедуры для проведения теста T, направленного на оценку качества паяных соединений. Данный тест предназначен для определения надёжности соединений при различных условиях воздействия температуры и влажности, что является критически важным для обеспечения функциональности электронных компонентов в долгосрочной перспективе. Документ уточняет и дополняет методики, изложенные в основной части стандарта, обеспечивая единый подход к проведению испытаний для производителей и испытательных лабораторий по всему миру. Внесённые изменения позволяют более точно воспроизводить условия, с которыми оборудование сталкивается в реальных эксплуатационных сценариях, связанных с пайкой и последующим термическим воздействием. Представленные в документе процедуры являются обязательными к применению для подтверждения соответствия продукции заявленным требованиям по устойчивости к воздействию окружающей среды.

IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986 История

  • 0000 IEC 60068-2-20:2021 RLV
  • 2008 IEC 60068-2-20:2008 Экологические испытания. Часть 2. Испытания. Испытание Т: Методы испытаний на паяемость и стойкость к теплу при пайке устройств с выводами.
  • 1987 IEC 60068-2-20:1979/AMD2:1987 Поправка 2. Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды. Часть 2-20. Испытания. Испытание Т: Пайка.
  • 1986 IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986 Поправка 1. Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды. Часть 2. Испытания. Испытание Т: Пайка.
  • 1979 IEC 60068-2-20:1979 Экологические испытания. Часть 2: Тесты. Тест Т: Пайка
  • 1968 IEC 60068-2-20:1968 Основные процедуры экологических испытаний электронных компонентов и электронного оборудования. Часть 2. Испытания. Испытание T: Пайка.
  • 1960 IEC 60068-2-20:1960 Основные процедуры экологических испытаний электронных компонентов и электронного оборудования. Часть 2. Испытания. Испытание T: Пайка.

стандарты и спецификации




© 2026. Все права защищены.