IEC 62047-37:2020 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 37. Методы экологических испытаний тонких пьезоэлектрических пленок MEMS для применения в датчиках. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 62047-37:2020
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 37. Методы экологических испытаний тонких пьезоэлектрических пленок MEMS для применения в датчиках.

Стандартный №
IEC 62047-37:2020
Дата публикации
2020
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 62047-37:2020

IEC 62047-37:2020 История

  • 2020 IEC 62047-37:2020 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 37. Методы экологических испытаний тонких пьезоэлектрических пленок MEMS для применения в датчиках.



© 2023. Все права защищены.