DIN 50454-3:1994 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение плотности дислокационных ямок травления в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 3: Фосфид галлия - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50454-3:1994
Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение плотности дислокационных ямок травления в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 3: Фосфид галлия

Стандартный №
DIN 50454-3:1994
Дата публикации
1994
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
Последняя версия
DIN 50454-3:1994
сфера применения
В документе указана методика определения плотности дислокационных ямок травления 100000 см в монокристаллах фосфида галлия. Метод не зависит от удельного электросопротивления и типа проводимости материала.

DIN 50454-3:1994 История

  • 1994 DIN 50454-3:1994 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение плотности дислокационных ямок травления в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 3: Фосфид галлия



© 2023. Все права защищены.