DIN 50454-3:1994 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение плотности дислокационных ямок травления в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 3: Фосфид галлия
В документе указана методика определения плотности дислокационных ямок травления 100000 см в монокристаллах фосфида галлия. Метод не зависит от удельного электросопротивления и типа проводимости материала.
DIN 50454-3:1994 История
1994DIN 50454-3:1994 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение плотности дислокационных ямок травления в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 3: Фосфид галлия