В этой части стандарта IEC 61967 представлена процедура испытаний, определяющая метод оценки компонентов ближнего электрического магнитного или электромагнитного поля на поверхности интегральной схемы (ИС) или вблизи нее. Эта диагностическая процедура предназначена для архитектурного анализа микросхем, такого как планирование помещения и оптимизация распределения электроэнергии. Эта процедура тестирования применима к измерениям с ИС, установленной на любой печатной плате, доступной для сканирующего зонда. Для сравнения излучений при сканировании поверхности между различными микросхемами следует использовать стандартизированную испытательную плату, определенную в IEC 61967-1. Этот метод позволяет получить подробную картину источников радиочастот (РЧ) внутри микросхемы. Разрешение измерения определяется возможностями измерительного зонда и точностью позиционера зонда. Этот метод предназначен для использования в диапазоне частот от 10 МГц до 1 ГГц. Расширенные верхние пределы частоты возможны при использовании существующей технологии датчиков, но выходят за рамки данной спецификации. Зонд механически сканируется в соответствии с запрограммированным шаблоном в плоскости, параллельной или перпендикулярной поверхности ИС. Данные обрабатываются на компьютере, чтобы обеспечить цветное представление напряженности поля на частоте сканирования.
TS 61967-3-2005 История
2005TS 61967-3-2005 Интегральные схемы Измерение электромагнитного излучения в диапазоне частот от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3: Измерение лучевого излучения Метод поверхностной проверки (Редакция 1.0)