IEEE 1620-2008
Методы испытаний для определения характеристик органических транзисторов и материалов (Компьютерное общество IEEE)

Стандартный №

IEEE 1620-2008

Дата публикации

2008

Разместил

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Последняя версия

IEEE 1620-2008

сфера применения

ПредисловиеНастоящий стандарт охватывает рекомендуемые методы и стандартизированную практику составления отчетов для определения электрических характеристик органических транзисторов. Из-за особенностей органических транзисторов, если их не устранить должным образом, могут возникнуть значительные ошибки измерений. В этом стандарте описаны наиболее распространенные источники ошибок измерения и приведены рекомендуемые методы, позволяющие свести к минимуму и/или охарактеризовать влияние каждого из них. Стандартные методы отчетности включены, чтобы свести к минимуму путаницу при анализе сообщаемых данных. Раскрытие информации об условиях окружающей среды и размере выборки включено, чтобы результаты могли быть надлежащим образом оценены исследовательским сообществом. Эти методы отчетности также поддерживают повторяемость результатов@, что позволяет более эффективно подтверждать новые открытия. Практики этого стандарта были собраны на основе исследовательских и промышленных организаций, разрабатывающих органические транзисторные устройства@ материалы@ и технологии производства. Эти методы были основаны на стандартных рабочих процедурах, используемых в лабораториях по всему миру. Этот стандарт был введен в действие в 2002 году, чтобы облегчить переход органических транзисторов из лаборатории в устойчивую промышленность. Стандартизированные методы определения характеристик и практика отчетности создают средства эффективного сравнения информации и основу для готовности производства. Область применения? Этот стандарт описывает метод определения характеристик органических электронных устройств@, включая методы измерения@, методы представления данных@ и условия тестирования во время характеризации.

IEEE 1620-2008 История

• 2008 IEEE 1620-2008 Методы испытаний для определения характеристик органических транзисторов и материалов (Компьютерное общество IEEE)
• 2004 IEEE 1620-2004 Стандартные методы испытаний для определения характеристик органических транзисторов и материалов (Документ IEEE Computer Society)