GB/T 5594.5-1985
Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания объемного удельного сопротивления. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 5594.5-1985
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1985
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 5594.5-1985
- сфера применения
- Настоящий стандарт распространяется на определение объемного сопротивления конструкционной керамики для электронных компонентов при температуре от комнатной до 500 °С.
GB/T 5594.5-1985 История
- 1985 GB/T 5594.5-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания объемного удельного сопротивления.
Специальные темы по стандартам и нормам
стандарты и спецификации
DIN EN IEC 62631-3-1:2023-10*VDE 0307-3-1:2023-10 Диэлектрические и резистивные свойства твердых изоляционных материалов
DIN EN IEC 62631-3-4:2020-07*VDE 0307-3-4:2020-07 Диэлектрические и резистивные свойства твердых изоляционных материалов
DIN EN IEC 62631-3-11:2018-09*VDE 0307-3-11:2018-09 Диэлектрические и резистивные свойства твердых изоляционных материалов
VDE 0307-3-1 E*DIN EN IEC 62631-3-1:2021-02
ISO 21178:2020 Ленточные конвейеры легкие. Определение электрических сопротивлений
NS-EN 1637:1999 Ленточные конвейеры легкие. Методы испытаний для измерения электрического сопротивления
UNI EN ISO 21178:2020 Легкие конвейерные ленты - Определение электрических сопротивлений
ISO 21178:2005 Легкие конвейерные ленты - Определение электрических сопротивлений
ISO 21178:2013 Легкие конвейерные ленты - Определение электрических сопротивлений
EN ISO 21178:2013 Легкие конвейерные ленты - Определение электрических сопротивлений
GB/T 5594.5-1985 - Все части
GB/T 5594.1-1985 Методы испытаний свойств конструкционной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания на газонепроницаемость
GB/T 5594.2-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания модуля упругости Юнга и коэффициента Пуассона.
GB/T 5594.3-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 3: Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения.
GB/T 5594.4-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 4: Метод испытаний диэлектрической проницаемости и значения тангенса угла диэлектрических потерь.
GB/T 5594.5-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания объемного удельного сопротивления.
GB/T 5594.6-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 6: Метод испытания на химическую стойкость.
GB/T 5594.7-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 7: Метод испытания на проницаемость для жидкостей.
GB/T 5594.8-2015 Методы испытания свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 8: Метод испытания микроструктуры