IEEE/IEC 62526-2007 МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников. - Стандарты и спецификации PDF

IEEE/IEC 62526-2007
МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.

Стандартный №
IEEE/IEC 62526-2007
Разместил
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Последняя версия
IEEE/IEC 62526-2007

IEEE/IEC 62526-2007 История

  • 1970 IEEE/IEC 62526-2007 МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.



© 2023. Все права защищены.