European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN 62979:2017
сфера применения
В стандарте IEC 62979:2017(E) представлен метод оценки того, подвержен ли байпасный диод, установленный в модуле, тепловому разгону или имеется ли достаточное охлаждение, чтобы он мог выдержать переход от режима прямого смещения к режиму обратного смещения без перегрева. Методика испытаний особенно подходит для испытаний диодов с барьером Шоттки, которые имеют свойство увеличивать ток утечки в зависимости от напряжения обратного смещения при высокой температуре, что делает их более восприимчивыми к тепловому разгону.
EN 62979:2017 История
2017EN 62979:2017 Фотоэлектрический модуль — обходной диод — тест на превышение температуры