IEEE 1149.4-2010
Тестовая шина смешанных сигналов (Компьютерное общество IEEE)

Стандартный №

IEEE 1149.4-2010

Дата публикации

2010

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEEE 1149.4-2024

Последняя версия

IEEE 1149.4-2024

сфера применения

Этот стандарт определяет архитектуру тестовой шины смешанных сигналов, которая обеспечивает средства управления и доступа как к аналоговым, так и к цифровым тестовым сигналам, так что структура тестируемости для цифровых схем, описанная в стандарте IEEE Std 1149.1-2001, была эффективно расширена, чтобы обеспечить аналогичные возможности для смешанных сигналов. -сигнальные цепи. В дополнение к тестированию межсоединений в традиционном понимании стандарта IEEE 1149.1-2001@, тестовая шина смешанных сигналов, определенная этим стандартом, также предоставляет средства для параметрического тестирования и@ опционально@ средства доступа к внутренним структурам тестирования. Стандарт не требует подробностей реализации испытательной схемы, хотя примеры соответствующих реализаций приведены для иллюстрации. Кроме того, стандарт развивает расширения языка описания пограничного сканирования (BSDL) как средство описания ключевых аспектов реализации этого стандарта в рамках конкретного компонента. В настоящее время расширения BSDL, определенные этим стандартом, специально исключают описание всех аналоговых параметров, определенных стандартом. Цель. Если структуры, определенные настоящим стандартом, включены в схемы со смешанными сигналами, проблемы тестируемости, возникающие в таких схемах, смягчаются за счет улучшения управляемости и наблюдаемости конструкций со смешанными сигналами и поддержки встроенных тестовых структур со смешанными сигналами, чтобы сократить время разработки тестов и затраты на тестирование, а также повысить качество тестов. В частности@ эти стандартизированные функции тестирования позволяют электронным компонентам@ печатных плат@ и электронным системам со смешанными сигналами (аналоговыми и/или цифровыми) быть доступными для внешнего или встроенного испытательного оборудования для испытаний межсоединений@ параметрических испытаний@ и внутренних испытаний. Дополнительной целью настоящего стандарта является определение описательных элементов BSDL и указанных расширений, достаточных для поддержки разработки алгоритмов автоматизированного тестирования, используемых для тестирования взаимосвязей между устройствами, которые соответствуют настоящему стандарту, и, где это практически возможно, между такими устройствами, смешанными с устройствами, которые включают в себя IEEE Std 1149.1-2001 или IEEE Std 1149.6TM-2003. Описательные элементы, определенные этим стандартом, также в значительной степени поддерживают автоматизированное создание аналоговых тестов для внешних компонентов, прикрепленных к компонентам или между компонентами, которые реализуют этот стандарт, с оговоркой, что такие тесты могут впоследствии потребовать модификации для учета недокументированных аналоговых функций в соответствующих компонентах.

IEEE 1149.4-2010 История

• 2024 IEEE 1149.4-2024 Инженерный стандарт для смешанных сигналов тестовой шины
• 2010 IEEE 1149.4-2010 Тестовая шина смешанных сигналов (Компьютерное общество IEEE)
• 1999 IEEE 1149.4-1999 Стандарт для тестовой шины смешанных сигналов Документы IEEE Computer Society

стандарты и спецификации