IEC TR 62240-2:2018 Управление процессами для авионики. Возможности электронных компонентов в работе. Часть 2. Срок службы полупроводниковых микросхем. - Стандарты и спецификации PDF

IEC TR 62240-2:2018
Управление процессами для авионики. Возможности электронных компонентов в работе. Часть 2. Срок службы полупроводниковых микросхем.

Стандартный №
IEC TR 62240-2:2018
Дата публикации
2018
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC TR 62240-2:2018
сфера применения
Эта часть IEC 62240@, которая представляет собой технический отчет@, ориентирована на производителей оригинального оборудования (OEM), использующих готовые к использованию полупроводниковые микросхемы (COTS) для высокопроизводительных@, высоких надежности и длительного срока службы. Этот документ помогает OEM-производителям в подготовке и сопровождении плана управления полупроводниковыми электронными компонентами (ECMP). В этом документе описываются процесс и метод выбора цифровых полупроводниковых микросхем путем обеспечения совместимости их срока службы с требованиями приложений аэрокосмической обороны и высокопроизводительных приложений (ADHP) (обычно в связи с функциональными средами). Предоставляются методы и рекомендации для оценки долгосрочной надежности полупроводниковых микросхем COTS в таких приложениях; в основном они применяются на этапе проектирования электроники при выборе полупроводниковых микросхем и оценке надежности применения. Кроме того@, в документе основное внимание уделяется внутреннему износу и сроку службы полупроводниковых микросхем COTS, размер элементов которых меньше или равен 90 нм (также называемых полупроводниковыми микросхемами глубокого субмикрона (DSM)), и в настоящее время откладывается@@ механизмы износа упаковки и случайных отказов. С этой точки зрения в основе подхода лежит физика отказов (PoF). ПРИМЕЧАНИЕ 1. МЭК 62239-1 может помочь OEM-производителям в создании и обслуживании ECMP. ПРИМЕЧАНИЕ 2. SAE ARP6338 также может помочь OEM-производителю в оценке и уменьшении преждевременного износа полупроводниковых микросхем с ограниченным сроком службы. ПРИМЕЧАНИЕ 3. С развитием электронной технологии и полупроводниковых микросхем, размер которых меньше или равен 90 нм, текущий справочник MIL-HDBK-217 или руководство FIDES становятся неподходящими, поскольку в настоящее время они основаны на предположении, что полупроводниковый материал Электронный компонент имеет постоянную (случайную) частоту отказов, не имеет ограничений по сроку службы и не изнашивается. Более того, @ кремний сам по себе имеет очень низкий уровень отказов во времени (FIT), а основные виды отказов часто связаны с корпусом (например, корпус @ соединительные провода @ и т. д.).

IEC TR 62240-2:2018 История

  • 2018 IEC TR 62240-2:2018 Управление процессами для авионики. Возможности электронных компонентов в работе. Часть 2. Срок службы полупроводниковых микросхем.



© 2023. Все права защищены.