T/CSTM 00166.2-2020
Характеристика графеновых материалов. Часть 2. Рентгеновская дифракция. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- T/CSTM 00166.2-2020
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2020
- Разместил
- Group Standards of the People's Republic of China
- Последняя версия
- T/CSTM 00166.2-2020
- сфера применения
-
Анализ основного содержания стандарта
Настоящий стандарт определяет полную техническую основу для анализа кристаллической структуры порошка графена с использованием рентгеновского дифрактометра и применим к производным графена с менее чем 10 слоями. Технические характеристики включают в себя:
Технические элементы Требования к параметрам Научная основа Диапазон выборки спектра 5°~60° Охват характерных дифракционных пиков графена (002) и (100) Скорость сканирования 4°~8°/мин Баланс между отношением сигнал/шум и эффективностью теста Точность ширины шага ≤0,02° Обеспечение точности измерения ширины полупика
Ключевые технологические инновации
Стандарт инновационно устанавливает метод точного измерения межплоскостного расстояния графена:
- Уравнение Брэгга 2d(hkl)sinθ=nλ используется для теоретических расчетов
- Для устранения случайных ошибок требуется 11-точечное сглаживание
- Для обеспечения надежности данных требуется три повторных измерения
Предложения по внедрению и применению
Случай 1: Анализ оксида графена
В Приложении A к стандарту показано, что оксид графена имеет дифракционный пик кристаллической плоскости (001) при 11,3°. Рассчитанное по формуле межплоскостное расстояние составляет 0,78 нм, что значительно больше 0,335 нм у графита, что подтверждает успешное введение кислородсодержащих функциональных групп.Ключевые моменты калибровки прибора
Рекомендуется калибровать поликристаллический рентгеновский дифрактометр в соответствии с JJG 629 перед каждым испытанием, уделяя особое внимание:- Калибровке угловой точности
- Проверке линейности интенсивности
- Проверке разрешения
Анализ развития технологий
По сравнению с традиционным стандартом рентгеновской дифракции GB/T 30904, прорывы этого стандарта заключаются в следующем:
- Создание специальной спецификации испытаний для двумерных материалов впервые
- Инновационное предложение стандарта дифракции для определения количества слоев графена
- Поддержка разработки графена База данных характерных пиков (Приложение А)
T/CSTM 00166.2-2020 Ссылочный документ
- GB/T 30544.13 Нанотехнологии. Словарь. Часть 13. Графен и родственные двумерные (2D) материалы.
- GB/T 30904 Неорганические химические вещества для промышленного использования. Анализ кристаллической формы. Метод рентгеновской дифракции.
- JJG 629 Поликристаллические рентгеновские дифрактометры
T/CSTM 00166.2-2020 История
- 2020 T/CSTM 00166.2-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 2. Рентгеновская дифракция.
