IEEE Std 1500-2005
Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра

Стандартный №

IEEE Std 1500-2005

Дата публикации

2005

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

состояние

быть заменен 2022-10

быть заменен

IEEE Std 1500-2022

Последняя версия

IEEE Std 1500-2022

сфера применения

Этот стандарт определяет механизм тестирования конструкций ядра внутри системы на кристалле (SoC). Этот механизм представляет собой аппаратную архитектуру и использует язык тестирования ядра (CTL) для облегчения взаимодействия между разработчиками ядра и интеграторами ядра.

IEEE Std 1500-2005 История

• 2022 IEEE Std 1500-2022 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра
• 2005 IEEE Std 1500-2005 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра