IEC 60147-2A:1969
Приложение А. Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерения. Часть 2. Общие принципы методов измерения.

Стандартный №

IEC 60147-2A:1969

Дата публикации

1969

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60147-2A:1969

заменить на

IEC 60147-2A:1969

заменять

31.080.10

Введение

本规范文件旨在为半导体器件的测量实践确立通用原则，是国际电工委员会在20世纪60年代末推出的技术文件体系中的关键组成部分。作为补充性文件，其内容聚焦于半导体产品基本额定值和特性测量方法的一般性指导，特别针对第二部分的通用测量原理进行了详细阐述。该文档为相关领域的测试活动提供了统一的技术框架，有助于确保不同实验室在评估半导体参数时的一致性。通过规范化的测量程序，该文件促进了半导体产品质量的客观评价，并为后续特定器件参数的测量标准奠定了基础。其技术内容涵盖了测量环境、设备要求及数据处理等核心要素，为相关技术人员在开展半导体器件性能测试时提供了重要的参考依据，推动了全球半导体测试技术的标准化进程。

*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.

IEC 60147-2A:1969 История

• 1963 IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения.

стандарты и спецификации