Эта часть IEC 62876@, которая является Технической спецификацией@, устанавливает общую программу тестирования стабильности для проверки стабильности работы наноматериалов и фотоэлектрических устройств с нанотехнологиями (NePV). Эти устройства используются в качестве узлов для изготовления фотоэлектрических модулей путем комбинирования с другими компонентами. Эта программа испытаний определяет стандартизированные методологии условий деградации и оценку данных для технологий. Результаты этих испытаний определяют стабильность в стандартизированных условиях деградации для количественной оценки стабильности новой технологии. Процедуры, изложенные в этом документе, были разработаны для NePV@, но могут быть расширены и служить руководством и для других фотоэлектрических технологий. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Испытания в этом документе выбраны с учетом использования вне помещений и, как таковые, представляют собой изолированные факторы стресса, которым устройства будут подвергаться в условиях открытого пространства. Для внутренней среды@ нагрузки, которым подвергаются работающие устройства, значительно менее серьезные@, и не все испытания будут применимы. Несмотря на это, предлагаемые тесты позволяют отслеживать улучшения стабильности и могут предоставить ценные данные во время разработки устройства. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Рабочие характеристики устройств будут оцениваться до и после проведения стресс-тестов. Методы определения эффективности NePV в настоящее время полностью не разработаны. Поэтому в тексте добавлены примечания относительно характеристик эффективности. В примечаниях, в частности, рассматриваются вопросы, которые будут обсуждаться в будущем, для таких приложений, как использование внутри помещений или устройств с медленным откликом или необычными спектральными откликами, таких как тандемные элементы. ПРИМЕЧАНИЕ 3. В объем поставки не входят фотоэлектрические модули, т. е. конечный продукт. Он предназначен только для тестирования технологии.
TS 62876-2-1-2018 История
2018TS 62876-2-1-2018 Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Фотоэлектрические устройства с нанотехнологиями. Испытание стабильности (Редакция 1.0)