IEC 60748-20-1:1994
Полупроводниковые приборы; интегральные схемы; часть 20: общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем; раздел 1: требования к внутреннему визуальному осмотру

Стандартный №

IEC 60748-20-1:1994

Дата публикации

1994

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60748-20-1:1994

заменять

IEC/DIS 47A(CO)272:1992

сфера применения

Целью является проверка внутренних материалов, конструкции и качества изготовления пленочных и гибридных интегральных схем. Эти исследования обычно проводятся перед вскрытием или инкапсуляцией для обнаружения и устранения F и HFIC с внутренними дефектами.

IEC 60748-20-1:1994 История

• 1994 IEC 60748-20-1:1994 Полупроводниковые приборы; интегральные схемы; часть 20: общие спецификации пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем; раздел 1: требования к внутреннему визуальному осмотру