Описывает метод испытаний для определения соотношения объемов меди и немеди в проводах Cu/Nb3Sn. Приведенный ниже метод испытаний применим к композитным сверхпроводящим проводам Nb3Sn с площадью поперечного сечения от 0,1 мм2 до 3 мм2 и медным и непроводящим проводам.
IEC 61788-12:2002 История
2013IEC 61788-12:2013 Сверхпроводимость. Часть 12: Измерение соотношения объемов матрицы и сверхпроводника. Соотношение объемов меди и немеди в композитных сверхпроводящих проводах NbSn
2002IEC 61788-12:2002 Сверхпроводимость. Часть 12. Измерение соотношения объемов матрицы и сверхпроводника. Соотношение объемов меди и немеди в композитных сверхпроводящих проводах Nb3Sn (редакция 1.0)