ASTM E2926-17
Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгенофлуоресцентной (µ
——XRF) спектрометрии
- Стандартный №
- ASTM E2926-17
- Дата публикации
- 2017
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- Последняя версия
- ASTM E2926-17
- сфера применения
-
1.1 Настоящий метод испытаний предназначен для определения основных, второстепенных и микроэлементов, присутствующих во фрагментах стекла. Элементный состав фрагмента стекла можно измерить с помощью микро-РФА-анализа для сравнения стекла.
1.2 Настоящий метод испытаний охватывает применение микро-РФА с использованием моно- и поликапиллярной оптики и энергодисперсионного рентгеновского детектора (ЭДС).
1.3 Этот метод тестирования не заменяет знания, навыки, способности, опыт, образование или подготовку и должен использоваться в сочетании с профессиональным суждением.
1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены.
1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E2926-17 Ссылочный документ
- ASTM E177 Стандартная практика использования терминов «точность» и «предвзятость» в методах испытаний ASTM
- ASTM E2330 Стандартный метод испытаний для определения концентраций элементов в образцах стекла с использованием масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS) для судебно-медицинских сравнений*， 2019-12-01 Обновление
ASTM E2926-17 История
- 2017 ASTM E2926-17 Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгенофлуоресцентной (µ ——XRF) спектрометрии
- 2013 ASTM E2926-13 Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгеновской флуоресценции lpar;micro; ——XRFrpar; Спектрометрия
