GSO IEC 62132-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.
В этой части IEC 62132 представлены общие сведения и определения по измерению кондуктивной и излучаемой электромагнитной устойчивости интегральных схем (ИС) к кондуктивным и излучаемым помехам. Он также содержит описание условий измерения, испытательного оборудования и настроек, а также процедур испытаний и содержания протоколов испытаний. Сравнительная таблица методов испытаний включена в Приложение А, чтобы помочь в выборе подходящего(их) метода(ов) измерения. Этот стандарт описывает общие условия, необходимые для получения количественной меры устойчивости микросхем в единой среде тестирования. Описаны критические параметры, которые, как ожидается, повлияют на результаты испытаний. Отклонения от этого стандарта четко указаны в отдельном протоколе испытаний. Результаты измерений можно использовать для сравнения или других целей. Измерение подаваемых напряжений и токов вместе с реакциями ИС, протестированных в контролируемых условиях, дает информацию о потенциальной устойчивости ИС к кондуктивным и излучаемым радиочастотным помехам в конкретном приложении.
GSO IEC 62132-1:2015 История
2015GSO IEC 62132-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.